Сканирующий электронный микроскоп JSM-5610 LV c системой химического анализа EDX JED-2201
Производитель: JEOL, Япония
Назначение: изучение микроструктуры и химического состава различных материалов, получение изображений с реальной поверхности
Техническая характеристика:
Увеличение от х18 до х300 000
Анализируемые элементы от В (бор) до U (уран)
Диапазон концентраций 0.1-100 %