**Сканирующий электронный микроскоп JSM-5610 LV c системой химического анализа EDX JED-2201**
\\ //Производитель://  JEOL, Япония
\\
\\ //Назначение:// изучение микроструктуры и химического состава различных материалов, получение изображений с реальной поверхности
\\
\\ //Техническая характеристика://
\\ 
\\ Увеличение от х18 до х300 000 
\\ Анализируемые элементы от В (бор) до U (уран) 
\\ Диапазон концентраций 0.1-100 %